表面電阻測試儀實現(xiàn)柔性薄膜材料無損傷測試，核心是通過低接觸壓力探針設(shè)計、四探針消干擾架構(gòu)、適配薄膜特性的測試參數(shù)優(yōu)化，在不劃傷、不壓痕、不改變薄膜表面導(dǎo)電特性的前提下，精準(zhǔn)完成表面電阻/方阻測量，適配柔性電路板、柔性顯示屏觸控層、抗靜電絕緣薄膜等超薄敏感材料的檢測需求。
低損傷電極系統(tǒng)核心設(shè)計
摒棄傳統(tǒng)重錘電極的大壓力接觸模式，采用耐磨低接觸壓力的特殊材質(zhì)探針頭，探針接觸壓力可根據(jù)柔性薄膜的彎曲特性靈活調(diào)節(jié)，接觸壓力控制在極低閾值，既保證電極與薄膜表面形成穩(wěn)定電接觸，又不會在超薄薄膜表面留下壓痕、劃傷，從物理接觸層面避免機械損傷。
部分專用機型采用同心圓軟接觸電極結(jié)構(gòu)，電極接觸面覆蓋導(dǎo)電硅膠緩沖層，接觸時均勻分散壓力，避免局部應(yīng)力集中刺破薄膜，適配厚度僅幾十微米的超柔性薄膜材料。
四探針法消除接觸電阻干擾
采用四探針測量架構(gòu)，通過兩對外部探針施加恒定電流，另外兩對探針獨立采集電壓信號，消除探針與薄膜表面之間的接觸電阻、引線電阻對測量結(jié)果的干擾，無需通過增大接觸壓力來降低接觸電阻，從測量原理層面擺脫對高接觸壓力的依賴，在極低接觸壓力下仍能獲得高精度的測量結(jié)果，測量精度遠高于傳統(tǒng)兩電極測試方案。
測試參數(shù)適配柔性薄膜特性
測試電壓嚴(yán)格遵循ANSI/ESDSTM11.11標(biāo)準(zhǔn)，根據(jù)被測薄膜的電阻范圍自動切換10V/100V檔位，針對高阻絕緣類柔性薄膜優(yōu)先采用10V低電壓測試，避免高電壓擊穿超薄薄膜的絕緣層，造成材料電性能不可逆損傷。
內(nèi)置納伏級高阻抗電壓表，整機輸入阻抗遠高于被測薄膜的表面電阻值，微弱電流信號也能精準(zhǔn)采集，無需施加大測試電流，避免電流過大在薄膜表面產(chǎn)生局部焦耳熱，導(dǎo)致熱敏性柔性薄膜發(fā)生熱變形、性能改變。
全流程無損傷輔助優(yōu)化
測試平臺采用高平整度的軟質(zhì)硅膠支撐臺面，柔性薄膜放置后貼合無局部懸空，測試過程中不會因薄膜受力拉扯產(chǎn)生形變，進一步降低測試過程中的機械損傷風(fēng)險。
部分機型搭載自動升降探針系統(tǒng)，探針接觸薄膜后自動停止下壓動作，不會出現(xiàn)人工操作時用力過度壓破薄膜的問題，同時支持二維電阻映射掃描功能，可在薄膜表面完成自動化多點測量，生成電阻分布云圖，全程無需人工移動樣品，避免人為操作帶來的二次劃傷。
020-86541001
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